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一种全角度成像基准尺
成果名称: | 一种全角度成像基准尺 | 关键字: | 基准 , 编码 , 条形 , 成像 , 摄影测量 , 摄影 , 端点 , 测量 , 标志 , 角度 | 应用行业: | 制造业 |
高新技术领域: | 先进制造技术 | 所在地: | 北京市 | 知识产权类型: | 发明专利 |
知识产权编号: | CN201710252064.4 | 成果体现形式: | 成果属性: | ||
成果所处阶段: | 授权 | 成果水平: | 国内先进 | 研究形式: | |
学科分类: | 战略新兴产业: | 高端装备制造 | 课题来源: | ||
第一完成单位名称: | 北京信息科技大学 | 第一完成单位属性: | 技术成熟度: | ||
合作方式: | 专利许可 | 交易价格(万): | 5.00 | 所属十强产业: |
本发明公开了一种全角度成像基准尺,所述基准尺包括主体、基准长度端点和基准尺识别编码,所述基准长度端点置于所述主体首末两端与主体固定连接,所述基准长度端点为涂有自反射材料的球形标志点;所述基准尺识别编码为一维条形码,并将一维条形码纵向延长,360°缠绕在所述基准尺的主体上,本发明采用球形自反射标志点实现入射光的全角度反射;在编码方面,采用一维条形码,并将一维条形码纵向延长,360°缠绕在基准尺的主体上,实现全角度的成像和条形编码识别。本发明实现了基准尺在测量空间的全角度成像。
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