本发明涉及电子测试技术领域，尤其涉及一种集成电路扫描测试的方法及系统。所述方法包括以下步骤：对集成电路进行多通道扫描测试设计和测试点筛选优化处理，以得到集成电路扫描测试优化点；对集成电路扫描测试优化点进行历史运行数据采集和故障程度检测，得到扫描测试点历史运行故障程度值；根据预设的运行故障程度标准值对扫描测试点历史运行故障程度值对应的集成电路扫描测试优化点进行比较判断和扫描测试，以得到集成电路高频故障异步测试数据以及集成电路低频故障时序测试数据；对集成电路高频故障异步测试数据以及集成电路低频故障时序测试数据进行集成分析，以得到集成电路扫描测试集成数据。本发明能够提高扫描测试的效率和精度。