本发明涉及电子学领域、目标识别技术，为定位特定种类元器件，给出识别结果、计数。本发明，基于图像特征空间变阈值度量的电子元器件自动识别方法，步骤如下：①收集待识别的各类电子元器件样本图片，对每个样本图片，分析其外观特征，选择多个能够反映元器件的具有辨识度的特征，完成电子元器件特征空间构建；②在样本特征空间中，通过统计样本的均值和方差确定每一种电子元器件在特征空间的位置和分布范围；③变阈值度量，依据不同特征，设置合适的阈值，进行图像背景全像素度量，获得度量结果；④识别结果反馈叠加，以度量结果为依据，进行识别定位，将识别结果反馈叠加至原始图像，完成识别。本发明主要应用于元件计数场合。