本发明提供了一种流式细胞系统荧光寿命高斯拟合测量方法，所述方法包括以下步骤：1)利用时间微元法求出瞬时散射光强度和荧光信号强度，2)利用卷积法对峰值位置的变化进行分析，3)利用高斯拟合对散射光信号与荧光信号进行表示，得到的脉冲信号进行高斯拟合。