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一种基于超声脉冲诱发光栅变形的用于测量折射率的方法
成果名称: | 一种基于超声脉冲诱发光栅变形的用于测量折射率的方法 | 关键字: | 光纤 , 光栅 , 折射率 , 折射 , 超声 , 超声波 , 主峰 , 光纤传感器 , 测量 , 解调 | 应用行业: | 制造业 |
高新技术领域: | 先进制造技术 | 所在地: | 北京市 | 知识产权类型: | 发明专利 |
知识产权编号: | CN201610217014.8 | 成果体现形式: | 成果属性: | ||
成果所处阶段: | 授权 | 成果水平: | 国内先进 | 研究形式: | |
学科分类: | 战略新兴产业: | 高端装备制造 | 课题来源: | ||
第一完成单位名称: | 北京信息科技大学 | 第一完成单位属性: | 技术成熟度: | ||
合作方式: | 专利许可 | 交易价格(万): | 3.00 | 所属十强产业: |
本发明提供了一种基于超声脉冲诱发光栅变形的用于测量折射率的方法,所述测量折射率的方法包括如下步骤:a)搭接光纤传感器折射率测量系统,所述系统包括一段带有连续均匀光栅的光纤、超声波发生器和解调仪,所述的带有连续均匀光栅的光纤具有多段光栅,每段光栅栅格均匀分布,所述光栅之间间隔相同;b)将所述光纤传感器折射率测量系统置于待测折射率的溶液中,记录所述解调仪采集到的离峰偏离主峰的间距;c)将步骤b)中所述的离峰偏离主峰的间距与离峰偏离主峰的间距随折射率变化的关系曲线比对,得到待测折射率溶液的折射率大小。
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苏博晖
15614431192
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