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基于高级次轴对称偏振光的并行共焦显微成像方法及装置
成果名称: | 基于高级次轴对称偏振光的并行共焦显微成像方法及装置 | 关键字: | 偏振 , 光束 , 光斑 , 聚焦 , 轴对称 , 级次 , 针孔 , 成像 , 高级 , 数值孔径 | 应用行业: | 制造业 |
高新技术领域: | 先进制造技术 | 所在地: | 北京市 | 知识产权类型: | 发明专利 |
知识产权编号: | CN201310367190.6 | 成果体现形式: | 成果属性: | ||
成果所处阶段: | 授权 | 成果水平: | 国内先进 | 研究形式: | |
学科分类: | 战略新兴产业: | 高端装备制造 | 课题来源: | ||
第一完成单位名称: | 北京信息科技大学 | 第一完成单位属性: | 技术成熟度: | ||
合作方式: | 专利许可 | 交易价格(万): | 3.00 | 所属十强产业: |
本发明提出了一种基于高级次轴对称偏振光的并行共焦显微成像方法及装置,利用该方法可获得物体的三维超分辨显微成像。所述基于高级次轴对称偏振光束的并行共焦显微成像装置包括:针孔滤波器、准直透镜、偏振转换系统、光瞳滤波器、分束镜、滤光片、针孔阵列板和传感器,其中,样品被放置于一三维平移台上,通过移动三维平移台可改变聚焦光斑在探测样品上的探测位置,以实现样品的三维扫描成像。
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苏博晖
15614431192
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