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表面等离子体增强全内反射荧光显微成像方法及装置
成果名称: | 表面等离子体增强全内反射荧光显微成像方法及装置 | 关键字: | 光束 , 偏振 , 表面等离子体 , 级次 , 聚焦 , 轴对称 , 激发 , 等离子体 , 偏转 , 等离子 | 应用行业: | 制造业 |
高新技术领域: | 先进制造技术 | 所在地: | 北京市 | 知识产权类型: | 发明专利 |
知识产权编号: | CN201310415225.9 | 成果体现形式: | 成果属性: | ||
成果所处阶段: | 授权 | 成果水平: | 国内领先 | 研究形式: | |
学科分类: | 战略新兴产业: | 高端装备制造 | 课题来源: | ||
第一完成单位名称: | 北京信息科技大学 | 第一完成单位属性: | 技术成熟度: | ||
合作方式: | 专利许可 | 交易价格(万): | 3.00 | 所属十强产业: |
本发明提出了一种基于高级次轴对称偏振光束的表面等离子体增强全内反射荧光显微成像方法,包括步骤:激光器发出的激光束经过针孔滤波器进行空间滤波,被准直透镜准直为平行光束;该平行光束入射到偏振转换系统中进行偏振态转换;获得的高级次轴对称偏振光束进一步通过光瞳滤波器和环形光阑进行振幅及相位调制;调制后的高级次轴对称偏振光束经过二向色分束镜反射到高数值孔径的聚焦物镜中进行聚焦,并射入“玻璃基底-金属薄膜-样品”的三层结构上;激发的荧光信号通过该三层结构反射回聚焦物镜中,并被其扩束,通过二向色分束镜透射,经过滤波片滤波后,最终被一聚光镜聚焦到针孔阵列板上,通过探测器将光信号转换为电信号,并进一步处理。
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苏博晖
15614431192
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