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基于柱矢量光束的受激发射损耗显微成像方法及装置

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成果名称: 基于柱矢量光束的受激发射损耗显微成像方法及装置 关键字: 偏振 , 光束 , 光斑 , 聚焦 , sted , 偏振光 , 显微 , 滤波 , 聚焦场 , 激发 应用行业: 制造业
高新技术领域: 先进制造技术 所在地: 北京市 知识产权类型: 发明专利
知识产权编号: CN201310328858.6 成果体现形式: 成果属性:
成果所处阶段: 授权 成果水平: 国内先进 研究形式:
学科分类: 战略新兴产业: 高端装备制造 课题来源:
第一完成单位名称: 北京信息科技大学 第一完成单位属性: 技术成熟度:
合作方式: 专利许可 交易价格(万): 3.00 所属十强产业:

本发明提供了一种基于柱矢量光束的超分辨受激发射损耗显微成像方法,包括如下步骤:对发出激发光束的第一激光器发出的激光束进行准直,获得第一平行光束;将第一平行光束转换为径向偏振光;通过透镜将调制后的第一径向偏振光聚焦在焦平面的样品上,得到聚焦实心光斑;对发出抑制光束的第二激光器发出的激光束进行准直,获得第二平行光束;将第二平行光束转换为切向偏振光;通过透镜将调制后的切向偏振光束聚焦在焦平面的样品上,得到聚焦中空光斑,该聚焦中空光斑与上述聚焦实心光斑中心重叠,使得只有中间位置处、尺寸小于衍射极限的中间点发出荧光;通过探测器探测上述中间点所发出的荧光。

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