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图像拼接质量的测评方法及装置
成果名称: | 图像拼接质量的测评方法及装置 | 关键字: | 图像 , 评测 , 拼接 , 测评 , 信息 , 属性 , 像素点 , 预设 , 全景 , 盲区 | 应用行业: | 计算机、通信和其他电子设备制造业 |
高新技术领域: | 先进制造技术 | 所在地: | 北京市 | 知识产权类型: | 发明专利 |
知识产权编号: | CN201910402871.9 | 成果体现形式: | 成果属性: | ||
成果所处阶段: | 授权 | 成果水平: | 国内先进 | 研究形式: | |
学科分类: | 战略新兴产业: | 高端装备制造 | 课题来源: | ||
第一完成单位名称: | 北京航空航天大学 | 第一完成单位属性: | 技术成熟度: | ||
合作方式: | 专利许可 | 交易价格(万): | 3.00 | 所属十强产业: |
本发明实施例提供一种图像拼接质量的测评方法及装置,所述方法包括:获取待评测图像的第一属性信息和参考图像的第二属性信息,第一属性信息包括待评测图像的盲区信息、像素点信息和频率信息,第二属性信息包括参考图像的像素点信息和频率信息,待评测图像为拼接至少两个第一图像得到的,参考图像为拼接至少两个第二图像得到的,根据第一属性信息和所述第二属性信息,确定待评测图像的拼接质量。用于提高对待评测图像的拼接质量进行测评的准确性。
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姜女士
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