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图像拼接质量的测评方法及装置

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成果名称: 图像拼接质量的测评方法及装置 关键字: 图像 , 评测 , 拼接 , 测评 , 信息 , 属性 , 像素点 , 预设 , 全景 , 盲区 应用行业: 计算机、通信和其他电子设备制造业
高新技术领域: 先进制造技术 所在地: 北京市 知识产权类型: 发明专利
知识产权编号: CN201910402871.9 成果体现形式: 成果属性:
成果所处阶段: 授权 成果水平: 国内先进 研究形式:
学科分类: 战略新兴产业: 高端装备制造 课题来源:
第一完成单位名称: 北京航空航天大学 第一完成单位属性: 技术成熟度:
合作方式: 专利许可 交易价格(万): 3.00 所属十强产业:

本发明实施例提供一种图像拼接质量的测评方法及装置,所述方法包括:获取待评测图像的第一属性信息和参考图像的第二属性信息,第一属性信息包括待评测图像的盲区信息、像素点信息和频率信息,第二属性信息包括参考图像的像素点信息和频率信息,待评测图像为拼接至少两个第一图像得到的,参考图像为拼接至少两个第二图像得到的,根据第一属性信息和所述第二属性信息,确定待评测图像的拼接质量。用于提高对待评测图像的拼接质量进行测评的准确性。

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