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基于聚焦像点的微透镜阵列型光场相机几何参数标定方法

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成果名称: 基于聚焦像点的微透镜阵列型光场相机几何参数标定方法 关键字: 像点 , 微透镜 , 透镜 , 坐标 , 光场 , 聚焦 , 相机 , 矩阵 , 求解 , 阵列 应用行业: 制造业
高新技术领域: 先进制造技术 所在地: 北京市 知识产权类型: 发明专利
知识产权编号: CN201811070094.4 成果体现形式: 成果属性:
成果所处阶段: 授权 成果水平: 国内先进 研究形式:
学科分类: 战略新兴产业: 高端装备制造 课题来源:
第一完成单位名称: 北京信息科技大学 第一完成单位属性: 技术成熟度:
合作方式: 专利许可 交易价格(万): 3.00 所属十强产业:

本发明公开了一种基于聚焦像点的微透镜阵列型光场相机几何参数标定方法,该方法包括以下步骤:S1,根据微透镜阵列型光场相机的聚焦成像光路图,得到物点与聚焦像点关于主透镜的映射关系;S2,根据微透镜阵列型光场相机的聚焦成像光路图,得到聚焦像点与探测器像点关于微透镜的映射关系;S3,根据检测得到的探测器像点,求解聚焦像点的坐标;S4,根据S3获得的聚焦像点的坐标,求解标定模型中的相机内部参数矩阵和外部参数矩;S5,通过S4获得的相机内部参数矩阵和外部参数矩阵,标定微透镜阵列型光场相机的几何参数。通过采用本发明提供的方法,进行微透镜阵列型光场相机的几何参数标定,可以为后续光场数据校准和实现计算成像提供可靠的参数。

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