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一种抗软失效存储单元以及锁存器和触发器
成果名称: | 一种抗软失效存储单元以及锁存器和触发器 | 关键字: | mos , 失效 , 触发器 , 电路 , nmos , 存储单元 , 存储 , 触发 , 栅极 , 锁存器 | 应用行业: | 制造业 |
高新技术领域: | 先进制造技术 | 所在地: | 北京市 | 知识产权类型: | 发明专利 |
知识产权编号: | CN201410488333.3 | 成果体现形式: | 成果属性: | ||
成果所处阶段: | 授权 | 成果水平: | 国内先进 | 研究形式: | |
学科分类: | 战略新兴产业: | 高端装备制造 | 课题来源: | ||
第一完成单位名称: | 中国传媒大学 | 第一完成单位属性: | 技术成熟度: | ||
合作方式: | 专利许可 | 交易价格(万): | 10.00 | 所属十强产业: |
本发明公开了一种抗软失效存储单元以及锁存器和触发器,所述一种抗软失效存储单元包括抗软失效电路,所述抗软失效电路的交叉耦合下拉NMOS管以及下拉保持NMOS管均各自串联一个NMOS管;所述一种抗软失效存储单元还包括反相器,所述交叉耦合下拉NMOS管的漏极均通过一所述反相器连接到与所述下拉保持NMOS管串联的NMOS管的栅极。本发明的种抗软失效存储单元以及锁存器和触发器在较低的延迟和功耗损失情况下,能够有效提高时序电路的抗软失效能力,在软失效问题日益显著的今天,具有重要应用价值和实际意义。
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苏博晖
15614431192
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