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一种压接式绝缘栅双极型晶体管高温反偏老化时间折算方法
成果名称: | 一种压接式绝缘栅双极型晶体管高温反偏老化时间折算方法 | 关键字: | igbt , 钝化 , 器件 , 老化 , 应力 , 终端 , 双极 , 晶体管 , —— , 绝缘 | 应用行业: | 制造业 |
高新技术领域: | 电子信息技术 | 所在地: | 北京市 | 知识产权类型: | 发明专利 |
知识产权编号: | CN201910292679.9 | 成果体现形式: | 成果属性: | ||
成果所处阶段: | 授权 | 成果水平: | 国内先进 | 研究形式: | |
学科分类: | 战略新兴产业: | 高端装备制造 | 课题来源: | ||
第一完成单位名称: | 华北电力大学 | 第一完成单位属性: | 技术成熟度: | ||
合作方式: | 专利许可 | 交易价格(万): | 20.00 | 所属十强产业: |
本发明公开了一种压接式绝缘栅双极型晶体管高温反偏老化时间折算方法,通过计算压接式IGBT器件终端区钝化层拉应力造成的材料微元中的机械能,进而得到为获得IGBT器件同样老化程度,在不同温度、机械压力下必须持续的老化时间之间的比例系数,从而实现了不同老化时间之间的折算,进而可实现试验条件下器件的加速老化寿命与实际工作条件下使用寿命之间的折算。
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苏博晖
15614431192
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