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不完整信号下的漏磁检测缺陷量化与显示方法
成果名称: | 不完整信号下的漏磁检测缺陷量化与显示方法 | 关键字: | 缺陷 , 漏磁 , bp , 神经网络 , 神经 , 沟槽 , 网络 , 凹坑 , 分量 , 三维 | 应用行业: | 制造业 |
高新技术领域: | 电子信息技术 | 所在地: | 北京市 | 知识产权类型: | 发明专利 |
知识产权编号: | CN201510382908.8 | 成果体现形式: | 成果属性: | ||
成果所处阶段: | 授权 | 成果水平: | 国内先进 | 研究形式: | |
学科分类: | 战略新兴产业: | 高端装备制造 | 课题来源: | ||
第一完成单位名称: | 清华大学 | 第一完成单位属性: | 技术成熟度: | ||
合作方式: | 专利许可 | 交易价格(万): | 20.00 | 所属十强产业: |
本发明提出一种不完整信号下的漏磁检测缺陷量化与显示方法,包括:提取包括不完整缺陷信息检测信号;根据基于索贝尔离散型差分算子的方法对检测信号进行识别,得到缺陷边缘;在检测信号少于完整缺陷信号的一半时,对检测信号进行对称处理,或者在检测信号多于完整缺陷信号的一半时,对检测信号的一半进行对称处理;提取关键特征量值并输入深度量化神经网络,以对缺陷深度进行估计;根据缺陷边缘和缺陷深度确定缺陷类型;根据缺陷边缘、缺陷深度以及缺陷类型得到缺陷轮廓;根据缺陷深度和缺陷轮廓对缺陷进行实时三维显示。本发明的方法能够解决在漏磁检测信号不完整的情况下无法量化并实时显示缺陷的问题,具有速度快、精度高、应用范围广的优点。
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苏博晖
15614431192
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