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基于电荷迁移带边缘反常热猝灭的荧光强度比测温方法

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成果简介
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前景分析

成果名称：	基于电荷迁移带边缘反常热猝灭的荧光强度比测温方法	关键字：		应用行业：	制造业
高新技术领域：	电能与电力	所在地：	重庆市	知识产权类型：	发明专利
知识产权编号：	CN202010757838.0	成果体现形式：		成果属性：
成果所处阶段：	授权	成果水平：	国内先进	研究形式：
学科分类：		战略新兴产业：	高端装备制造	课题来源：
第一完成单位名称：	重庆邮电大学	第一完成单位属性：		技术成熟度：
合作方式：	技术转让	交易价格(万)：	2.00	所属十强产业：

本发明请求保护一种基于电荷迁移带边缘反常热猝灭的荧光强度比测温方法，本发明涉及一种基于电荷迁移带反常热猝灭的荧光强度比测温方法。本发明的目的是为了解决传统的基于稀土离子热耦合能级荧光强度比测温灵敏度较低的问题，方法：(1)以Eu3+:NaLaCaWO6为感温材料；(2)在298K至528K温度区间内，荧光强度比I308/I354随温度的升高逐渐增大，且与温度T存在单调的函数关系，该强度比和温度之间的函数关系即为测温曲线，则可以通过监测荧光强度比值来实现测温的目的。本发明的测温方法所得测温灵敏度在298K处可达2.23％K‑1。与传统测温方法相比，在298K处灵敏度提高了4.37倍。本发明的测温方法具有较高灵敏度。本发明应用于稀土荧光测温领域。